Objet de la Manifestation

• Composants microélectroniques et optoélectroniques ;
• Électronique ultime et térahertz ;
• Lasers semiconducteurs, Microcavités et bandes interdites photoniques ;
• Croissance et caractérisation des semiconducteurs ;
• Micro- et nano-technologie, structures de basse dimensionnalité.

Présentation Générale des JNMO

Organisées tous les deux ans depuis 1987 sous l’égide du Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), les Journées Nationales de Microélectronique et d’Optoélectronique (JNMO) rassemblent la communauté scientifique française impliquée dans l’élaboration et la physique des composants semiconducteurs microscopiques ou nanoscopiques ayant pour finalité la microélectronique ou l’optoélectronique. De ce fait, les domaines scientifiques couverts sont larges et vont de la physique de la matière condensée pour l’élaboration et la caractérisation des semiconducteurs jusqu’aux systèmes qui incorporent ces composants dans leurs fonctions. Le large spectre de thématiques couvert par cette réunion nationale en fait un moment privilégié de la vie de notre communauté scientifique, en particulier pour les jeunes chercheurs et les doctorants qui y présentent souvent leur premiers travaux.

Initialement vouées essentiellement aux semiconducteurs III-V associant à parité des éléments des colonnes III et V de la classification périodique des éléments, ces journées s’ouvrent depuis les dernières éditions aux filières des semiconducteurs II-VI et au SiGe.

De 150 à 200 chercheurs et ingénieurs participent traditionnellement à ces journées qui correspondent à la manifestation la plus importante sur le plan national dans le domaine des matériaux et composants pour l’électronique et l’optoélectronique. La qualité des contributions ainsi que l’utilité et finalement le succès de cette manifestation sont ainsi bien établis aujourd’hui. Deux caractéristiques de ces journées sont en fait uniques et renforcent leur intérêt pour la communauté scientifique :

• d’une part, elles concernent l’ensemble de la filière composants, de l’activité amont concernant la physique des matériaux semiconducteurs et leur élaboration jusqu’aux technologies de fabrication et aux études de fiabilité (interdisciplinarité) ;
• d’autre part, elles rassemblent, grâce notamment au choix des personnalités formant le Comité de Programme, les acteurs des laboratoires publics et des centres de recherche industriels de premier plan (fertilisation croisée).

Historique des JNMO

La périodicité moyenne des JNMO est environ de 1 an et demi à 2 ans. Sauf erreur, les précédentes éditions furent :

• Septembre 2002, Saint Aygulf, Var, Laboratoire organisateur : CRHEA Valbonne
• Janvier 2001, Aussois, Savoie, Laboratoire organisateur : IEMN Lille
• Janvier 1999, Egat, Pyrénées Orientales, Laboratoire organisateur : LAAS Toulouse
• Janvier 1997, Chantilly, Oise, Laboratoire organisateur : L2M Bagneux
• Juin 1994, Ecully, Rhône, Laboratoire organisateur : LEOM Ecully
• Octobre 1992, La Grande Motte, Hérault, Laboratoire organisateur : CEM Montpellier
• Mars 1990, Aussois, Laboratoire organisateur : CHS Lille
• Juin 1988, Oléron, Charente Maritime, Laboratoire organisateur : LAAS Toulouse
• Janvier 1987, Aussois, Savoie, Laboratoire organisateur : IEF Orsay

Déroulement des JNMO

Les X^e JNMO se tiendront au Village de Vacances VVF “Le Ponant” à La Grande Motte (Hérault) du 8 Juin 2004 au soir au 11 Juin 2004 après-midi.

Ces journées rassemblent la communauté scientifique française concernée par l’élaboration et la physique des composants semiconducteurs microscopiques ou nanoscopiques ayant pour finalité la microélectronique ou l’optoélectronique. Les domaines scientifiques couverts sont larges et vont de la physique de la matière condensée pour l’élaboration et la caractérisation des semiconducteurs jusqu’aux systèmes qui incorporent ces composants dans leurs fonctions.

Comme pour les précédentes éditions, les présentations scientifiques consistent en des conférences invitées orales et plusieurs sessions de communications par affiche pour les propositions reçues.

Conférences Invitées

Les conférences invitées (une vingtaine environ, couvrant tous les domaines de la physique des semiconducteurs appliquée aux composants de la microélectronique et de l’optoélectronique) sont choisies par le Comité de Programme. Les critères de choix incluent la représentativité des orateurs dans chaque thématique concernée, étant entendu qu’ils doivent être des spécialistes reconnus capables de proposer une revue de la thématique et de son état de l’art au moment de la conférence. Le Comité de Programme s’engage à faire respecter un équilibre entre les différentes thématiques abordées et il s’engage aussi à mettre en lumière les technologies émergentes et les avancées récentes les plus marquantes tous domaines confondus.

La liste de ces conférences invitées est disponible à l’entrée programme.

Communication par Affiche

Les contributions de l’ensemble de la communauté se feront sous forme d’affiches en plusieurs sessions successives organisées par thème. Ceci a pour but de permettre à tous les participants d’interagir sur les différents aspects du domaine et de promouvoir l’aspect interdisciplinaire de la réunion.

Les principaux thèmes de recherche pour lesquels des Communications par Affiche sont sollicitées sont les suivants :

• Composants électroniques ;
• Composants optoélectroniques ;
• Croissance épitaxiale des semiconducteurs ;
• Caractérisation structurale, optique et électrique des semiconducteurs ;
• Micro et nanotechnologie ;
• Structures de basse dimensionnalité ;
• Microcavités et bandes interdites photoniques ;
• Microélectronique silicium ;
• Dispositifs (opto)électroniques pour les télécommunications ;
• Composants et technologie THz.

Des modèles de communication à différents formats sont disponibles à la page soumission, en tout état de cause les résumés devront être conforme au modèle PDF fourni. Les panneaux disponibles pour les affiches permettent d’exposer des formats jusqu’au A0 (soit approximativement 80 cm par 120 cm, accrochage par adhésif uniquement).

Date limite IMPÉRATIVE pour la réception des résumés : Lundi 24 Mai 2004